IoT + Embedded Test – Continuous Testing mit Hardware Prüfplätzen
Abstract
Das Testen eingebetteter Systeme beinhaltet weit mehr Herausforderungen als das Testen von reinen Nutzerapplikationen, wie einer “App” oder einem Windows-Nutzerprogramm. Viele Abhängigkeiten zwischen Hard- und Software spielen hierbei eine wichtige Rolle. Um eingebettete Systeme zielführend abzusichern, bedient sich der Tester verschiedener Testumgebungen. Am Beispiel eines Komponentenprüfplatzes werden Aufbau und Funktionen einer Hardware-in-the-Loop-Testumgebung (HiL) dargestellt. In einer Demonstration wird mittels eines Fahrzeugdiagnosetests die Komplexität des Testsystems veranschaulicht.
In einigen Absicherungsprojekten werden eine Vielzahl solcher HiL-Systeme eingesetzt. Ziel ist es, Testsysteme möglichst effizient auszulasten, um beispielsweise kontinuierlich aktuelle Testergebnisse zu erzeugen. Monitoring-Systeme und Automatisierungsmechanismen sind dabei wichtige Werkzeuge, um mehrere Prüfplätze geschickt einzusetzen. Am Beispiel des Komponentenprüfplatzes werden verschiedene Szenarien präsentiert und diskutiert.
Vortragsziel
Der erste Teil des Vortrages beleuchtet Herausforderungen von Softwaretests. Ein Schwerpunkt ist das Testen eingebetteter Systeme und der Aufbau von Hardware-in-the-Loop-Prüfplätzen. An einem Komponentenprüfplatz werden Steuergerätetests erklärt und demonstriert. Der zweite Teil des Vortrages befasst sich mit den Aspekten des Continuous Testing mit HiL-Systemen. Hier werden konkrete Szenarien vorgestellt und Besonderheiten aufgezeigt.
Referent Frederik Schrader
Dipl.-Ing. Frederik Schrader hat an der TU Dresden Mechatronik studiert und als Testingenieur bei der TraceTronic GmbH bereits langjährige Erfahrungen in verschiedenen Kundenprojekten gesammelt. Seit mehreren Jahren ist er Spezialist im Bereich Continuous Testing mit HiL-Systemen.
Referent Matthias Friedrich
Dipl.-Ing. Matthias Friedrich hat an der TU Dresden Mechatronik studiert. Lange Zeit hat er Hardwareprojekte bei TraceTronic im Bereich Testsysteme begleitet und geleitet bevor er 2012 im Bereich Test- und Absicherung tätig wurde. Dort entwickelte er Testumgebungen und Testkonzepte für eingebettete Systeme und aufgebaut und sammelte Erfahrungen im Bereich HiL- und MiL-Testing.

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