FG-Treffen Automotive: Test First für Embedded Systeme

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FG-Treffen Automotive: Test First für Embedded Systeme

Januar 11, 2018 @ 18:00 - 20:00

„Test First für Embedded Systeme“

Abstract:
Häufig werden Embedded Systeme während der Entwicklung nur unzureichend getestet. Am Ende der Entwicklung steht dann der Hardware in the Loop (HIL) Test. Die Behebung der entdeckten Fehler ist in dieser späten Phase aber immer sehr viel teurer und dauert länger als in der Entwicklungsphase.
Am Beispiel der Softwareentwicklung eines Geräteherstellers wird eine entwicklungsbegleitende HIL Testmethodik für Embedded Systeme vorgestellt. Anders als bei herkömmlichen HIL Systemen erlaubt die Methodik bereits während der Entwicklung den Aufbau und die Durchführung automatisierter HIL Tests durch den Entwickler (Test First).
Der Vortrag endet mit einer Live Demonstration der größtenteils aus Standard Hardware und Open Source Produkten bestehenden Toolchain.

Referent: Thomas Schütz (Protos Software GmbH)

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Details

Datum:
Januar 11, 2018
Zeit:
18:00 - 20:00
Veranstaltungskategorien:
,

Veranstalter

FG Automotive Bayern-Süd

Veranstaltungsort

sepp.med GmbH
Richard-Wagner-Str. 39
Ingolstadt, Bayern 85057 Deutschland
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